Detail publikace

Behavior of CMOS Polymorphic Circuits in High Temperature Environment

RŮŽIČKA, R.; ŠIMEK, V.; SEKANINA, L. Behavior of CMOS Polymorphic Circuits in High Temperature Environment. Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Cottbus: IEEE Computer Society, 2011. p. 447-452. ISBN: 978-1-4244-9753-9.
Název česky
Chování polymorfních obvodů CMOS při vysokých teplotách
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY)
Šimek Václav, Ing. (UPSY)
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
Klíčová slova

Polymorphic digital circuits, polymorphic gates, reconfigurable circuits, temperature-aware design.

Abstrakt

Článek popisuje sérii experimentů konaných s cílem analyzovat vliv vysokých teplot na chování polymorfních číslicových obvodů. Tyto experimenty byly provedeny na rekonfigurovatelném polymorfním obvodě REPOMO32, který lze (kromě konfiguračního bitového řetězce) konfigurovat také změnou napájecího napětí (Vdd). Experimenty ukazují, že polymorfní hradla v obvodě lze snadno ovlivnit (jejich funkci) ne pouze změnou Vdd, ale také změnou teploty. Kromě toho experimenty také potvrdily, že obvod REPOMO32 je dostatečně robustně navržen a jeho dynamické parametry jsou v širokém rozsahu pracovních teplot dostatečně stabilní na to, aby mohl být využíván v dalších návrzích číslicových polymorfních obvodů řízených teplotou.

Rok
2011
Strany
447–452
Sborník
Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
ISBN
978-1-4244-9753-9
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Cottbus
BibTeX 
@inproceedings{BUT76318,
  author="Richard {Růžička} and Václav {Šimek} and Lukáš {Sekanina}",
  title="Behavior of CMOS Polymorphic Circuits in High Temperature Environment",
  booktitle="Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems",
  year="2011",
  pages="447--452",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Cottbus",
  isbn="978-1-4244-9753-9",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/9581/"
}
Nahoru