Detail publikace

TASTE: Testability Analysis Engine and Opened Libraries for Digital Data Path

STRNADEL, J. TASTE: Testability Analysis Engine and Opened Libraries for Digital Data Path. Proceedings of 11th Euromicro Conference on Digital Systems Design Architectures, Methods and Tools. Los Alamitos: IEEE Computer Society, 2008. p. 865-872. ISBN: 978-0-7695-3277-6.
Název česky
TASTE: Soubor prostředků a otevřených knihoven pro analýzu testovatelnosti číslicových obvodů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
URL
Klíčová slova

digital, circuit, testability, analysis, scan, transparency, netlist, graph, model, searching, marking, reachability, library, component, template

Abstrakt

Testovatelnost patří k nejdůležitějším faktorům, které jsou zákazníkem vyžadovány spolu se spolehlivostí, rychlostí, spotřebou, cenou a dalšími během vývojového cyklu produktu. Odhad testovatelnosti silně závisí na přesnosti informace, z níž analýza testovatelnosti vychází. V příspěvku jsou představeny dva výsledky našeho předchozího, dlouhodobého výzkumu v oblasti analýzy testovatelnosti číslicových obvodů: princip navrženého algoritmu analýzy testovatelnosti a struktura knihoven použitých k uchování potřebné informace vycházející z tzv. transparentních modelů. Algoritmus je obecný a doba jeho běhu a přesnost jeho výsledků silně závisí na informaci uložené v knihovnách. Je-li v knihovnách uložena informace vycházející z jednoduchého modelu, odhad testovatelnosti může být velmi vzdálen od skutečné testovatelnosti obvodu. V opačném případě můžeme odhadnout i tak významný faktor jakým je např. pokrytí poruch.

Rok
2008
Strany
865–872
Sborník
Proceedings of 11th Euromicro Conference on Digital Systems Design Architectures, Methods and Tools
ISBN
978-0-7695-3277-6
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Los Alamitos
BibTeX 
@inproceedings{BUT27714,
  author="Josef {Strnadel}",
  title="TASTE: Testability Analysis Engine and Opened Libraries for Digital Data Path",
  booktitle="Proceedings of 11th Euromicro Conference on Digital Systems Design Architectures, Methods and Tools",
  year="2008",
  pages="865--872",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Los Alamitos",
  isbn="978-0-7695-3277-6",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/8632/"
}
Nahoru