Detail publikace

RT Level Test Optimization for Low Power Consumption

ŠKARVADA, J. RT Level Test Optimization for Low Power Consumption. In MEMICS proceedings 2007. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2007. p. 185-192. ISBN: 978-80-7355-077-6.
Název česky
Optimalizace testu na úrovni RT pro nízký příkon
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Škarvada Jaroslav, Ing., Ph.D.
Klíčová slova

Register transfer level, power consumption optimization, test vectors reordering, scan cells reordering

Abstrakt

Příspěvek se zabývá optimalizací testu číslicového obvodu na úrovni RT pro nízký příkon. Je představen model obvodu využívající teorie množin a relací. V tomto modelu je hodnota příkonu stanovena v závislosti na struktuře číslicového obvodu a použitých testovacích datech. Dále je prezentována optimalizační metoda pro snížení příkonu obvodu během aplikace testu.

Rok
2007
Strany
185–192
Sborník
MEMICS proceedings 2007
ISBN
978-80-7355-077-6
Vydavatel
Ing. Zdeněk Novotný, CSc.
Místo
Brno
BibTeX 
@inproceedings{BUT25354,
  author="Jaroslav {Škarvada}",
  title="RT Level Test Optimization for Low Power Consumption",
  booktitle="MEMICS proceedings 2007",
  year="2007",
  pages="185--192",
  publisher="Ing. Zdeněk Novotný, CSc.",
  address="Brno",
  isbn="978-80-7355-077-6"
}
Nahoru