Detail publikace
A Complex Approach to Digital RTL Circuit Testability - iFCoRT System
diagnostika na úrovni RT, i cesty, návrh pro snadnou testovatelnost
V článku je popsán komplexní přístup k diagnostice číslicových obvodů na úrovni RT. Tento systém byl nazván iFCoRT - I path Based, Formally Described and Proved Concept of RTL Digital Circuits Testability (na i cestách založený, formálně popsaný a dokázaný koncept testovatelnosti číslicových obvodů na úrovni RT). Popsaný přístup je založen na koncepci i cest a využívá principů návrhu pro snadnou testovatelnost jako je částečná scan atd. Prezentovaný přístup zahrnuje model obvodu, analýzu testovatelnosti, verifikaci testovatelnosti, rozvržení testu a syntézu řadiče testu. Všechny moduly systému jsou specifikovány formálně a potom je také krok po kroku dokázána jejich správnost.
@inproceedings{BUT21509,
author="Richard {Růžička}",
title="A Complex Approach to Digital RTL Circuit Testability - iFCoRT System",
booktitle="Informal Digest of Papers of the IEEE European Test Symposium 2005",
year="2005",
pages="156--157",
publisher="Tallinn University of Technology",
address="Tallinn"
}