Detail publikace

International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems

STAMENKOVIC, Z.; BOSIO, A.; CSEREY, G.; NOVÁK, O.; PLESKACZ, W.; SEKANINA, L.; STEININGER, A.; STOJANOVIC, G.; STOPJAKOVÁ, V. International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. In 2019 IEEE International Test Conference. Washington, DC: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019. p. 1-4. ISBN: 978-1-7281-4823-6.
Název česky
Mezinárodní symposium o návrhu a diagnostice elektronických obvodů a systémů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
STAMENKOVIC, Z.
BOSIO, A.
CSEREY, G.
Novák Ondřej, prof.Ing., CSc. (CK-SZZ)
PLESKACZ, W.
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
Steininger Andreas, Prof. Dr.
STOJANOVIC, G.
Stopjaková Viera, prof. Ing., Ph.D.
Klíčová slova

symposium, DDECS, electronics, circuits, systems

Abstrakt

Článek je příspěvkem k oslavám 50. výroční založení International Test Conference (ITC) a Global Test Forum (GTF), jakožto akcím, které zdůrazňují přínos a globální dopad ITC během uplynulých 50 let. Konkrétně popisuje minulost, současnost a budoucí směřování International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), tj. sympozia, které patří k prominentním akcím relevantním pro testování integrovaných obvodů a které bylo iniciováno a podporováno ITC.

Rok
2019
Strany
1–4
Sborník
2019 IEEE International Test Conference
ISBN
978-1-7281-4823-6
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Washington, DC
DOI
10.1109/ITC44170.2019.9000137
UT WoS
000540385000026
EID Scopus
2-s2.0-85081578342
BibTeX 
@inproceedings{BUT162595,
  author="STAMENKOVIC, Z. and BOSIO, A. and CSEREY, G. and NOVÁK, O. and PLESKACZ, W. and SEKANINA, L. and STEININGER, A. and STOJANOVIC, G. and STOPJAKOVÁ, V.",
  title="International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems",
  booktitle="2019 IEEE International Test Conference",
  year="2019",
  pages="1--4",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="Washington, DC",
  doi="10.1109/ITC44170.2019.9000137",
  isbn="978-1-7281-4823-6",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/12200/"
}
Nahoru