Detail publikace

Deep Packet Inspection in FPGAs via Approximate Nondeterministic Automata

HAVLENA, V.; ČEŠKA, M.; HOLÍK, L.; KOŘENEK, J.; LENGÁL, O.; MATOUŠEK, D.; MATOUŠEK, J.; SEMRIČ, J.; VOJNAR, T. Deep Packet Inspection in FPGAs via Approximate Nondeterministic Automata. In Proceedings - 27th IEEE International Symposium on Field-Programmable Custom Computing Machines, FCCM 2019. San Diego, CA: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019. p. 109-117. ISBN: 978-1-7281-1131-5.
Název česky
Použití přibližných nedeterministických automatů pro hlubokou inspekci paketů v FPGA
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Havlena Vojtěch, Ing., Ph.D. (UITS)
Češka Milan, doc. RNDr., Ph.D. (UITS)
Holík Lukáš, doc. Mgr., Ph.D. (UITS)
Kořenek Jan, doc. Ing., Ph.D. (UPSY)
Lengál Ondřej, Ing., Ph.D. (UITS)
Matoušek Denis, Ing.
Matoušek Jiří, Ing., Ph.D. (UPSY)
Semrič Jakub, Bc.
Vojnar Tomáš, prof. Ing., Ph.D. (UITS)
Klíčová slova

intrusion detection system, deep packet inspection, finite automata, approximate reduction

Abstrakt

Tento článek se zabývá aproximativní redukcí konečných automatů pro detekci útoků ve vysokorychlostních sítích.

Rok
2019
Strany
109–117
Sborník
Proceedings - 27th IEEE International Symposium on Field-Programmable Custom Computing Machines, FCCM 2019
Konference
The 27th IEEE International Symposium On Field-Programmable Custom Computing Machines -- FCCM'19, San Diego, CA, US
ISBN
978-1-7281-1131-5
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
San Diego, CA
DOI
10.1109/FCCM.2019.00025
UT WoS
000491873200016
EID Scopus
2-s2.0-85068333761
BibTeX 
@inproceedings{BUT158077,
  author="Vojtěch {Havlena} and Milan {Češka} and Lukáš {Holík} and Jan {Kořenek} and Ondřej {Lengál} and Denis {Matoušek} and Jiří {Matoušek} and Jakub {Semrič} and Tomáš {Vojnar}",
  title="Deep Packet Inspection in FPGAs via Approximate Nondeterministic Automata",
  booktitle="Proceedings - 27th IEEE International Symposium on Field-Programmable Custom Computing Machines, FCCM 2019",
  year="2019",
  pages="109--117",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="San Diego, CA",
  doi="10.1109/FCCM.2019.00025",
  isbn="978-1-7281-1131-5",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/11951/"
}
Nahoru