Detail publikace

Special Session: How Approximate Computing impacts Verification, Test and Reliability

SEKANINA, L.; VAŠÍČEK, Z.; BOSIO, A.; TRAIOLA, M.; RECH, P.; OLIVEIRA, D.; FERNANDES, F.; DI CARLO, S. Special Session: How Approximate Computing impacts Verification, Test and Reliability. 2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium. San Francisco: IEEE Computer Society, 2018. p. 0-0. ISBN: 978-1-5386-3774-6.
Název česky
Speciální sekce: Jak aproximativní počítání ovlivňuje verifikaci, testování a spolehlivost
Typ
abstrakt
Jazyk
anglicky
Autoři
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
Vašíček Zdeněk, doc. Ing., Ph.D. (UPSY)
BOSIO, A.
TRAIOLA, M.
RECH, P.
OLIVEIRA, D.
FERNANDES, F.
DI CARLO, S.
Klíčová slova

digital circuit, approximate computing, verification, test, reliability

Abstrakt

Aproximativní počítání je nový přístup k realizaci výpočetních systémů, který se snaží o vylepšení energetické účinnosti, doby výpočtu a složitosti počítačů za cenu nenulové chybovosti. Cílem této speciální sekce je diskutovat jak aproximativní počítání může ovlivnit procesy verifikace, testování a celkovou spolehlivost číslicových obvodů. Jsou prezentovány dva pohledy: (i) jak aproximativní počítání ovlivňuje postup návrhu a výroby integrovaných obvodů a (ii) jak disciplíny verifikace, testování a spolehlivosti mohou být využity v rámci aproximativního přístupu.

Rok
2018
Strany
1
Kniha
2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium
ISBN
978-1-5386-3774-6
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
San Francisco
DOI
10.1109/VTS.2018.8368628
UT WoS
000435280400009
EID Scopus
2-s2.0-85048364082
BibTeX 
@misc{BUT155724,
  author="SEKANINA, L. and VAŠÍČEK, Z. and BOSIO, A. and TRAIOLA, M. and RECH, P. and OLIVEIRA, D. and FERNANDES, F. and DI CARLO, S.",
  title="Special Session: How Approximate Computing impacts Verification, Test and Reliability",
  booktitle="2018 IEEE 36th VLSI Test Symposium",
  year="2018",
  pages="1",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="San Francisco",
  doi="10.1109/VTS.2018.8368628",
  isbn="978-1-5386-3774-6",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/11726/",
  note="abstract"
}
Nahoru