Detail publikace

On the Automatic Design of Testable Circuits

SEKANINA, L.; RŮŽIČKA, R. On the Automatic Design of Testable Circuits. Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems. Poznań: Publishing House of Poznan University of Technology, 2003. p. 299-300. ISBN: 83-7143-557-6.
Název česky
Příspěvek k automatizovanému návrhu testovatelných obvodů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY)
Klíčová slova

Evolutionary design, testability, digital circuits

Abstrakt

V tomto článku je popsán přístup k automatizovanému návrhu netriviálních obvodů, které jsou z pohledu kvality a ceny srovnatelné s obvody navrženými konvenčními technikami, přitom jsou navíc i snadno testovatelné.

Rok
2003
Strany
299–300
Sborník
Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
ISBN
83-7143-557-6
Vydavatel
Publishing House of Poznan University of Technology
Místo
Poznań
BibTeX 
@inproceedings{BUT13960,
  author="Lukáš {Sekanina} and Richard {Růžička}",
  title="On the Automatic Design of Testable Circuits",
  booktitle="Proceedings of IEEE Workshop on Design nad Diagnostics of Electronic Circuits and Systems",
  year="2003",
  pages="299--300",
  publisher="Publishing House of Poznan University of Technology",
  address="Poznań",
  isbn="83-7143-557-6"
}
Nahoru