Detail projektu

Metodika a prostředky pro analýzu testovatelnosti digitálních obvodů

Období řešení: 1. 1. 1998 – 31. 3. 2006

Typ projektu: grant

Kód: GA102/98/1463

Agentura: Grantová agentura České republiky

Program: Standardní projekty

Název anglicky
Methodology and tools for digital circuits testability analysis
Typ
grant
Klíčová slova

diagnostika číslicových obvodů-analýya testovatelnosti

Řešitelé
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. – hlavní řešitel
Drábek Vladimír, doc. Ing., CSc. (FIT)
Fučík Otto, doc. Dr. Ing. (UPSY)
Zbořil František, doc. Ing., CSc. (UITS)
Publikace

2000

  • SEKANINA, L.; DRÁBEK, V. Relation Between Fault Tolerance and Reconfiguration in Cellular Systems. 6th IEEE Int. On-Line Testing Workshop. Palma de Mallorca, Spain: IEEE Computer Society Press, 2000. p. 25-30. ISBN: 0-7695-0646-1. Detail
  • ZBOŘIL, F. VHDL RT Level Parser/Analyser of a Source Code. Proceedings of the fourth international scientific conference Electronic Computers & Informatics'2000. Košice: Faculty of Electrical Engineering and Informatics, University of Technology Košice, 2000. p. 150-155. ISBN: 80-88922-25-9. Detail

1998

  • ZBOŘIL, F., KOTÁSEK, Z. Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory. In Proceedings of the ECI'98. Herlany, SR: SAV, 1998. p. 75-80. ISBN: 80-88786-94-0. Detail
Nahoru