Detail výsledku

Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations

KUNOVSKÝ, J.; TOMICA, P.; PETŘEK, J. Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations. Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05. Ostrava: Marq software s.r.o., 2005. p. 128-134. ISBN: 80-86840-10-7.
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Kunovský Jiří, doc. Ing., CSc., UITS (FIT)
Tomica Petr, Ing., FIT (FIT)
Petřek Jiří, Ing., FIT (FIT)
Abstrakt

Solving electrical circuits is a typical problem leading to solvingdifferenctial equations. Some complications appear in the case when weconsider parasitic parameters of the circuit (such as parasiticresistance, inductance or capacity). Even a simple system ofdifferential equation describing its model may become very stiffeasilly. Stiff systems appear in simulation of electrical circuits veryoften.

Klíčová slova

stiff system, taylor series method, circuits simulation

Rok
2005
Strany
128–134
Sborník
Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05
Konference
MOSIS2005 - 39th Spring International Conference on Modelling and Simulation of Systems
ISBN
80-86840-10-7
Vydavatel
Marq software s.r.o.
Místo
Ostrava
BibTeX 
@inproceedings{BUT18065,
  author="Jiří {Kunovský} and Petr {Tomica} and Jiří {Petřek}",
  title="Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations",
  booktitle="Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05",
  year="2005",
  pages="128--134",
  publisher="Marq software s.r.o.",
  address="Ostrava",
  isbn="80-86840-10-7"
}
Projekty
Bezpečnost informačních systémů - výzkum útoků na kryptograficky bezpečná zařízení, GAČR, Standardní projekty, GA102/04/0871, zahájení: 2004-01-01, ukončení: 2006-12-31, ukončen
Pracoviště
Ústav inteligentních systémů (UITS)
Nahoru