Detail publikace

Optimising Solution of the Scan Problem at RT Level Based on a Genetic Algorithm

STRNADEL, J.; KOTÁSEK, Z. Optimising Solution of the Scan Problem at RT Level Based on a Genetic Algorithm. Proceedings of 5th IEEE Design and Diagnostics of Electronics Circuits and Systems Workshop. Brno: Brno University of Technology, 2002. p. 44-51. ISBN: 80-214-2094-4.
Název česky
Optimalizace problému scan na úrovni RT založená na genetickém algoritmu
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Klíčová slova

Partial/Full-Scan, Genetic algorithm, Design for testability

Abstrakt

Článek se zabývá problémem výběru registrů do scan řetězců na úrovni RT. Výsledkem navržené metody je nejen informace o tom, které registry je třeba zařadit do scan řetězců, ale také v jakém pořadí mají být registry ve scan řetězcích zapojeny.

Rok
2002
Strany
44–51
Sborník
Proceedings of 5th IEEE Design and Diagnostics of Electronics Circuits and Systems Workshop
ISBN
80-214-2094-4
Vydavatel
Brno University of Technology
Místo
Brno
BibTeX 
@inproceedings{BUT9822,
  author="Josef {Strnadel} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Optimising Solution of the Scan Problem at RT Level Based on a Genetic Algorithm",
  booktitle="Proceedings of 5th IEEE Design and Diagnostics of Electronics Circuits and Systems Workshop",
  year="2002",
  pages="44--51",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="80-214-2094-4",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/6897/"
}
Nahoru