Detail publikace
NAND/NOR Gate Polymorphism in Low Temperature Environment
Polymorphic electronics, temperature-awareness, polymorphic gate, multifunctional gate
Článek je zaměřen na chování polymorfních číslicových obvodů v prostředí, které je může potenciálně ohrožovat nebo negativně působit na jejich funkci. Na rozdíl od konvenčních CMOS obvodů ale polymorfní obvody těží právě z toho, že jejeich funkce je ovlivňována stavem okolního prostředí a jsou navrženy tak, aby této vlastnosti dokázaly využít. Nejvýraznějším přínosem je rozměrově efektivní implementace adaptivního (vícefunkčního) obvodu. V článku je kladen důraz na sadu experimentů zkoumajících vliv širokého rozmezí teplot (zejména nízkých) na rekonfigurovatelný čip obsahující polymorfní hradla. Experimenty jsou prováděny s rekonfigurovatelným polymorfním čipem REPOMO32, jehož polymorfní hradla jsou primárně ovlivňována napájecím napětím. Pro tento obvod byla navržena deska (kit), která experimentování s napětím, ale i s teplotou čipu podporuje. Je možno dosahovat teplot čipu až -40 stupňů Celsia a zkoumat chování čipu. Popsané experimenty dokládají, že funkci polymorfních hradel na čipu lze výborně ovládat nejen úrovní napájecího napětí, ale také teplotou. Výsledky experimentů rovněž naznačují, že vlastní čip byl navržen velmi robustně a je schopen správně fungovat ve velkém rozsahu teplot.
@inproceedings{BUT91511,
author="Richard {Růžička} and Václav {Šimek}",
title="NAND/NOR Gate Polymorphism in Low Temperature Environment",
booktitle="Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems",
year="2012",
pages="34--37",
publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
address="Tallinn",
isbn="978-1-4673-1185-4"
}