Detail publikace

Two Level Testability System

KOTÁSEK, Z.; RŮŽIČKA, R.; STRNADEL, J.; ZBOŘIL, F. Two Level Testability System. Proceedings of the 35th Spring International Conference MOSIS'01. Ostrava: 2001. p. 433-440. ISBN: 80-85988-57-7.
Název česky
Systém dvojúrovňové testovatelnosti
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY)
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
Zbořil František, doc. Ing., CSc. (UITS)
Klíčová slova

RTL, Testability Analysis, VHDL

Abstrakt

V článku jsou popsány principy systému dvojúrovňové testovatelnosti. První úrovní je popis chování, kdy jako vstup slouží zdrojový VHDL soubor. RT úroveň je druhou úrovní, kdy již jsou brány v úvahu aspekty testovatelnosti.

Rok
2001
Strany
433–440
Sborník
Proceedings of the 35th Spring International Conference MOSIS'01
ISBN
80-85988-57-7
Místo
Ostrava
BibTeX 
@inproceedings{BUT5604,
  author="Zdeněk {Kotásek} and Richard {Růžička} and Josef {Strnadel} and František {Zbořil}",
  title="Two Level Testability System",
  booktitle="Proceedings of the 35th Spring International Conference MOSIS'01",
  year="2001",
  pages="433--440",
  address="Ostrava",
  isbn="80-85988-57-7"
}
Nahoru