Detail publikace
Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability
PEČENKA, T.; SEKANINA, L.; KOTÁSEK, Z. Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability. ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2008, vol. 13, no. 3, p. 1-21. ISSN: 1084-4309.
Název česky
Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability
Typ
článek v časopise
Jazyk
anglicky
Autoři
Klíčová slova
evolutionary algorithm, digital circuit, testability analysis
Abstrakt
Článek představuje novou aplikaci evolučních algoritmů v oblasti testování číslicových obvodů. Popisuje metodu, která umožňuje navrhovat složité testovací obvody s požadovanými vlastnostmi z hlediska diagnostiky. Metoda byla použita k vytvoření nové sady benchmarkových obvodů. Jedná se o největší obvody doposud navržené evolučními algoritmy.
Rok
2008
Strany
1–21
Časopis
ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, roč. 13, č. 3, ISSN 1084-4309
BibTeX
@article{BUT48172,
author="Tomáš {Pečenka} and Lukáš {Sekanina} and Zdeněk {Kotásek}",
title="Evolution of Synthetic RTL Benchmark Circuits with Predefined Testability",
journal="ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS",
year="2008",
volume="13",
number="3",
pages="1--21",
issn="1084-4309",
url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/8653/"
}