Detail publikace

The Use of Genetic Algorithm to Derive Correlation Between Test Vector and Scan Register Sequences and Reduce Power Consumption

KOTÁSEK, Z.; ŠKARVADA, J.; STRNADEL, J. The Use of Genetic Algorithm to Derive Correlation Between Test Vector and Scan Register Sequences and Reduce Power Consumption. Proceedings of 13th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools. Los Alamitos: IEEE Computer Society, 2010. p. 644-651. ISBN: 978-0-7695-4171-6.
Název česky
Použití genetického algoritmu k odvození vztahu mezi pořadími aplikace testovacích vektorů a rozmístění registrů a k redukci příkonu
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Škarvada Jaroslav, Ing., Ph.D.
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
URL
Klíčová slova

test vector, scan chain, low power, power consumption, optimization, genetic algorithm, CMOS, AMI, ordering, correlation

Abstrakt

Většinou současných metod jsou problémy volby pořadí aplikace testovacích vektorů a volby pořadí registrů ve scan řetězech řešeny samostatně jako dva vzájemně nezávislé problémy. Ve článku je ukázáno, že mezi oběma problémy existuje silná závislost. Dále je ukázáno, že pro dosažení optimálních výsledků není vhodné řešit tyto problémy odděleně, ale řešit oba problémy současně. Původní dva stavové prostory jsou transformovány na jediný, nad nímž poté probíhá optimalizace založená na genetickém algoritmu. Vlastnosti tohoto optimalizačního procesu byly zkoumány na sadách  ISCAS85, ISCAS89 a ITC99 benchmarkových obvodů implementovaných pomocí CMOS technologie popsané v AMI knihovně. Dosažené experimentální výsledky, shrnuté na konci článku, ukazují, že reflektováním vztahu mezi oběma problémy a spojením obou dílčích problémů do jediného lze dosáhnout lepších výsledků při optimalizaci, tj. větší redukce příkonu, než dosavadní metody. Srovnání s výsledky existujících metod je shrnuto na konci článku.

Rok
2010
Strany
644–651
Sborník
Proceedings of 13th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools
ISBN
978-0-7695-4171-6
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Los Alamitos
BibTeX 
@inproceedings{BUT35934,
  author="Zdeněk {Kotásek} and Jaroslav {Škarvada} and Josef {Strnadel}",
  title="The Use of Genetic Algorithm to Derive Correlation Between Test Vector and Scan Register Sequences and Reduce Power Consumption",
  booktitle="Proceedings of 13th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools",
  year="2010",
  pages="644--651",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Los Alamitos",
  isbn="978-0-7695-4171-6",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/9342/"
}
Nahoru