Detail publikace
The Use of Genetic Algorithm to Reduce Power Consumption during Test Application
test application, power consumption, reduction, optimization, genetic algorithm, scan chain, scan register, test vector, reordering, benchmark, digital circuit
Ve článku je demonstrováno, že spojením dvou, obvykle samostatně řešených, problémů z oblasti testování elektronických systémů do jediného řešeného problému lze dosáhnout lepších řešení než jaké umožňují obvykle používané postupy. Problémy, na jejichž současné řešení se článek zaměřuje, jsou problém stanovení vhodné posloupnosti aplikace testovacích vektorů a problém vhodného uspořádání registrů ve scan řetězech. Cílem je oba problémy optimalizovat pro dosažení minimální přepínací aktivity uvnitř obvodu, tj. minimální spotřeby obvodu, při aplikaci testu. Pro optimalizaci byl zvolen genetický algoritmus. V článku jsou popsány všechny důležité principy použité při návrhu metody, zejména příkonové metriky, způsob reprezentace problému pro strojové zpracování, mechanismus prohledávání stavového prostoru řešení, způsob ohodnocení kvality dílčích řešení a shrnutí závislosti kvality nalezených řešení na parametrech genetického algoritmu. Účinnost metody je podpořena prezentací dosažených experimentálních výsledků a jejich srovnáním s výsledky jiných metod.
@inproceedings{BUT35933,
author="Jaroslav {Škarvada} and Zdeněk {Kotásek} and Josef {Strnadel}",
title="The Use of Genetic Algorithm to Reduce Power Consumption during Test Application",
booktitle="Evolvable Systems: From Biology to Hardware",
year="2010",
series="Lecture Notes in Computer Science, ISSN 0302-9743, Vol. 6274",
journal="Lecture Notes in Computer Science",
volume="2010",
number="6274",
pages="181--192",
publisher="Springer Verlag",
address="Berlin",
doi="10.1007/978-3-642-15323-5\{_}16",
isbn="978-3-642-15322-8",
issn="0302-9743",
url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/9341/"
}