Detail publikace

Fast Cycle-Accurate Interpreted Simulation

PŘIKRYL, Z.; MASAŘÍK, K.; HRUŠKA, T.; HUSÁR, A. Fast Cycle-Accurate Interpreted Simulation. Tenth International Workshop on Microprocessor Test and Verification: Common Challenges and Solutions. Austin: IEEE Computer Society Press, 2009. p. 9-14. ISBN: 978-0-7695-4000-9.
Název česky
Rychlá interpretovaná simulace na úrovni cyklů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Přikryl Zdeněk, Ing., Ph.D.
Masařík Karel, Ing., Ph.D. (CK-SDZ)
Hruška Tomáš, prof. Ing., CSc. (UIFS)
Husár Adam, Ing., Ph.D.
Klíčová slova

Hardware/software co-design; ASIP; Jazyk pro popis architektury; Interpretovaná simulace na úrovni cyklů; Formální modely.

Abstrakt

Oblast hardware/software co-designu se zabývá návrhem ASIPů (Aplikačně specifických procesorů), protože často tvoří jádro vestavěných systémů. Vestavěné systémy s ASIPy jsou navrhovány pro specializovanou činnost a proto musí splňovat několik kriterií, jako je spotřeba nebo velikost čipu. Úspěch návrhu je úzce svázán s existencí dobrých nástrojů pro jejich návrh, jako jsou nástroje pro jejich programování a simulaci. Obzvlášť důležitá je simulace, protože pomocí ní je možné ověřit vlastnosti návrhu. Z tohoto důvodu bývá ASIP popsán pomocí jazyka pro pro popis architektury. To umožňuje automatické generování nástrojů pro jejich programováni a simulaci. V tomto příspěvku se zaměřujeme na principy, které jsou použity v naší rychlé interpretované simulaci na úrovni cyklů. Kromě rychlosti simulace se také zaměříme na zajištění ekvivalence mezi simulátorem a hardwarovou realizaci ASIP.

Rok
2009
Strany
9–14
Sborník
Tenth International Workshop on Microprocessor Test and Verification: Common Challenges and Solutions
ISBN
978-0-7695-4000-9
Vydavatel
IEEE Computer Society Press
Místo
Austin
BibTeX
@inproceedings{BUT30917,
  author="Zdeněk {Přikryl} and Karel {Masařík} and Tomáš {Hruška} and Adam {Husár}",
  title="Fast Cycle-Accurate Interpreted Simulation",
  booktitle="Tenth International Workshop on Microprocessor Test and Verification: Common Challenges and Solutions",
  year="2009",
  pages="9--14",
  publisher="IEEE Computer Society Press",
  address="Austin",
  isbn="978-0-7695-4000-9"
}
Nahoru