Detail publikace
Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu
polymorfní elektronika, polytronika, polymorfní hradla, ATPG, design for test, snižování počtu testovacích vektorů.
Polymorfní elektronika je nový přístup k tvorbě elektronických obvodů, které jsou schopny na základě vnějších podmínek (teplo, světlo, napájecí napětí atp.) měnit svoji funkci. Tato práce pojednává o novém typu aplikace polymorfní elektroniky. Polymorfní hradla jsou vkládána do klasických obvodů za účelem snížení počtu testovacích vektorů potřebných pro dosažení stanovených parametrů testu. V jednom režimu plní obvod klasickou funkci. Ve druhém režimu může být obvod testován s menším počtem testovacích vektorů, než kdyby zůstal v režimu prvním, přičemž pokrytí poruch je stejné. Při testech na šesti vzorových obvodech bylo dosaženo redukce až 50%. Článek se také zabývá některými problémy, které daný koncept přináší.
@inproceedings{BUT28838,
author="Lukáš {Stareček}",
title="Polymorfní hradla pro optimalizaci testu obvodu",
booktitle="Sborník příspěvků Česko-slovenského semináře Počítačové architektury a diagnostika pro studenty doktorandského studia",
year="2007",
pages="41--46",
publisher="Západočeská univerzita v Plzni",
address="Plzeň",
isbn="978-80-7043-605-9"
}