Detail publikace
Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis
STRNADEL, J. Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis. In Proceedings of 14th Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference. Brno: Brno University of Technology, 2007. p. 333-338. ISBN: 978-80-214-3470-7.
Název česky
Sada nástrojů pro experimentování s optimalizacemi v oblasti kompromisu mezi cenou a kvalitou návrhu pro snadnou testovatelnost číslicových obvodů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D.
(UPSY)
Klíčová slova
scan, design for testability, education, tool, consequence, diagnosis, design, trade-off, constraints, testability, scan chain
Abstrakt
Ve článku jsou představeny nástroje využitelné pro výuku a procvičování orincipů souvisejících s návrhem pro snadnou testovatelnost číslicových systémů pomocí strukturálních a ad-hoc technik. Jsou prezentovány nástroje SET a CADeT, s jejichž využitím je uživatel schopen spouštět experimenty v oblasti optimalizace s cílem dosažení přijatelného kompromisu mezi cenou a kvalitou mezi uživatelskými návrhovými omezeními a diägnostickými vlastnostmi výsledného systému. Článek je zaměřen zejména na nastínění výzkumně-výukových možností nástrojů SET a CADeT.
Rok
2007
Strany
333–338
Sborník
Proceedings of 14th Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference
ISBN
978-80-214-3470-7
Vydavatel
Brno University of Technology
Místo
Brno
BibTeX
@inproceedings{BUT28819,
author="Josef {Strnadel}",
title="Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis",
booktitle="Proceedings of 14th Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference",
year="2007",
pages="333--338",
publisher="Brno University of Technology",
address="Brno",
isbn="978-80-214-3470-7"
}