Detail publikace

Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis

STRNADEL, J. Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis. In Proceedings of 14th Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference. Brno: Brno University of Technology, 2007. p. 333-338. ISBN: 978-80-214-3470-7.
Název česky
Sada nástrojů pro experimentování s optimalizacemi v oblasti kompromisu mezi cenou a kvalitou návrhu pro snadnou testovatelnost číslicových obvodů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Klíčová slova

scan, design for testability, education, tool, consequence, diagnosis, design, trade-off, constraints, testability, scan chain

Abstrakt

Ve článku jsou představeny nástroje využitelné pro výuku a procvičování orincipů souvisejících s návrhem pro snadnou testovatelnost číslicových systémů pomocí strukturálních a ad-hoc technik. Jsou prezentovány nástroje SET a CADeT, s jejichž využitím je uživatel schopen spouštět experimenty v oblasti optimalizace s cílem dosažení přijatelného kompromisu mezi cenou a kvalitou mezi uživatelskými návrhovými omezeními a diägnostickými vlastnostmi výsledného systému. Článek je zaměřen zejména na nastínění výzkumně-výukových možností nástrojů SET a CADeT.

Rok
2007
Strany
333–338
Sborník
Proceedings of 14th Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference
ISBN
978-80-214-3470-7
Vydavatel
Brno University of Technology
Místo
Brno
BibTeX
@inproceedings{BUT28819,
  author="Josef {Strnadel}",
  title="Educational Toolset for Experimenting with Optimizations in the Area of Cost/Quality Trade-Offs Related to Digital Circuit Diagnosis",
  booktitle="Proceedings of 14th Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference",
  year="2007",
  pages="333--338",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="978-80-214-3470-7"
}
Nahoru