Detail publikace

Testability Enhancement of Multilevel Designs Guided by Testability Analysis Method

STRNADEL, J. Testability Enhancement of Multilevel Designs Guided by Testability Analysis Method. Proceedings of Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference. Brno: Brno University of Technology, 2008. p. 367-372. ISBN: 978-80-214-3717-3.
Název česky
Zlepšení testovatelnosti víceúrovňových návrhů řízené analýzou testovatelnosti
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
URL
Klíčová slova

digital, circuit, design, testability, multilevel, enhancement, guidance

Abstrakt

V příspěvku je prezentováno rozšíření dříve publikovaného modelu o prostředky víceúrovňového modelování a analýz. Je ilustrováno jak lze knihovny a obvodovou strukturu víceúrovňových návrhů popsat pomocí speciálního jazyka. Dále je nastíněno jak je možné navázat prezentovaný nástroj na vývojová prostředí používaná v praxi a jak lze využít výsledků analýzy testovatelnosti pro následné zlepšení testovatelnosti analyzovaných obvodů.

Rok
2008
Strany
367–372
Sborník
Proceedings of Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference
ISBN
978-80-214-3717-3
Vydavatel
Brno University of Technology
Místo
Brno
BibTeX 
@inproceedings{BUT27713,
  author="Josef {Strnadel}",
  title="Testability Enhancement of Multilevel Designs Guided by Testability Analysis Method",
  booktitle="Proceedings of Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference",
  year="2008",
  pages="367--372",
  publisher="Brno University of Technology",
  address="Brno",
  isbn="978-80-214-3717-3",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/8631/"
}
Nahoru