Detail publikace
Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu
ŠKARVADA, J. Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu. In Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia. Bratislava: Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied, 2006. s. 143-148. ISBN: 80-9692-0227.
Název anglicky
Power constrained test scheduling optimization for digital systems
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
česky
Autoři
Škarvada Jaroslav, Ing., Ph.D.
Klíčová slova
plán testu, testování, příkon, optimalizace plánu testu, číslicový obvod
Abstrakt
Příspěvek se zabývá optimalizací plánování testu číslicových obvodů a to zejména optimalizací z hlediska příkonu obvodu během aplikace testu. V diagnostickém režimu činnosti obvodu lze totiž vysledovat zvýšený příkon oproti běžnému funkčnímu režimu činnosti obvodu. Použitím vhodných metod plánování testu je však možné příkon v diagnostickém režimu podstatně snížit. V praxi lze popisované postupy s výhodou uplatnit např. u číslicových obvodů napájených z baterií nebo u číslicových obvodů s vysokým stupněm integrace a s omezenými možnostmi chlazení
Rok
2006
Strany
143–148
Sborník
Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia
ISBN
80-9692-0227
Vydavatel
Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied
Místo
Bratislava
BibTeX
@inproceedings{BUT22276,
author="Jaroslav {Škarvada}",
title="Optimalizace plánování testu číslicových systémů vzhledem k příkonu",
booktitle="Sborník příspěvků pracovního semináře Počítačové architektury & diagnostika pro studenty doktorského studia",
year="2006",
pages="143--148",
publisher="Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied",
address="Bratislava",
isbn="80-9692-0227"
}