Detail publikace

FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties

PEČENKA, T.; KOTÁSEK, Z.; SEKANINA, L. FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties. In Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop. Praha: IEEE Computer Society, 2006. p. 285-289. ISBN: 1424401844.
Název česky
FITTest_BENCH06: Nová sada testovacích obvodů zohledňující jejich testovatelnost
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Pečenka Tomáš, Ing., Ph.D.
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
Klíčová slova

benchmark, synthetic, RTL, testability

Abstrakt

V příspěvku je představena sada syntetických testovacích obvodů FITTest_BENCH06 určená pro ověřování diagnostických metod a nástrojů. Sada se skládá z 31 obvodů na čtyřech úrovních složitosti (2000, 10000, 28000, 100000, 150000 a 300000 hradel), přičemž pro každou úroveň složitosti jsou k dispozici 4 úrovně testovatelnosti (pokrytí poruch 0%, 33%, 66% a 100%). Součástí příspěvku je také krátké představení návrhové metody použité pro vytvoření těcto obvodů.

Rok
2006
Strany
285–289
Sborník
Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop
ISBN
1424401844
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Praha
BibTeX 
@inproceedings{BUT22205,
  author="Tomáš {Pečenka} and Zdeněk {Kotásek} and Lukáš {Sekanina}",
  title="FITTest_BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties",
  booktitle="Proc. of 2006 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems Workshop",
  year="2006",
  pages="285--289",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Praha",
  isbn="1424401844"
}
Nahoru