Detail publikace

SET: Interactive Tool for Learning and Training Scan-Based DFT Principles and Their Consequences to Parameters of Embedded System

KOTÁSEK, Z.; STRNADEL, J. SET: Interactive Tool for Learning and Training Scan-Based DFT Principles and Their Consequences to Parameters of Embedded System. In Proceedings of the 13th IEEE International Symposium and Workshop on the Engineering of Computer-Based Systems (ECBS). Los Alamitos, CA: IEEE Computer Society, 2006. p. 497-498. ISBN: 0-7695-2546-6.
Název česky
SET: Interaktivní nástroj pro výuku a procvičování principů scan DFT technik a jejich vlivu na parametry vestavěných systémů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
Klíčová slova

scan, design for testability, education, tool, consequence, diagnosis, design, trade-off, constraints, testability, scan chain

Abstrakt

Ve článku jsou představeny základní vlastnosti nástroje pro výuku a procvičování principů souvisejících se scan technikou návrhu pro snadnou testovatelnost. Je nastíněno, jak lze daný nástroj využít ve výukovém procesu, a to zejména při ilustraci vztahů mezi návrhovými a diagnostickými vlastnostmi číslicového systému.

Rok
2006
Strany
497–498
Sborník
Proceedings of the 13th IEEE International Symposium and Workshop on the Engineering of Computer-Based Systems (ECBS)
ISBN
0-7695-2546-6
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Los Alamitos, CA
BibTeX 
@inproceedings{BUT22181,
  author="Zdeněk {Kotásek} and Josef {Strnadel}",
  title="SET: Interactive Tool for Learning and Training Scan-Based DFT Principles and Their Consequences to Parameters of Embedded System",
  booktitle="Proceedings of the 13th IEEE International Symposium and Workshop on the Engineering of Computer-Based Systems (ECBS)",
  year="2006",
  pages="497--498",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Los Alamitos, CA",
  isbn="0-7695-2546-6"
}
Nahoru