Detail publikace

Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique

KOTÁSEK, Z., STRNADEL, J., PEČENKA, T. Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique. In Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop. Sopron: University of West Hungary, 2005. p. 186-189. ISBN: 963-9364-48-7.
Název česky
Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
Pečenka Tomáš, Ing., Ph.D.
URL
Klíčová slova

design for testability, scan method, testable core

Abstrakt

Příspěvek se zabývá problémem výběru vhodné množiny registrů do řetězce scan. Proces výběru prezentovaný v příspěvku je založen na technikách identifikace testovatelných jader, pokrytí zpětnovazebních smyček a výběru vhodných registrů pro dosažení vysokého paralelismu testu.

Rok
2005
Strany
186–189
Sborník
Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop
ISBN
963-9364-48-7
Vydavatel
University of West Hungary
Místo
Sopron
BibTeX 
@inproceedings{BUT21466,
  author="Zdeněk {Kotásek} and Josef {Strnadel} and Tomáš {Pečenka}",
  title="Methodology of Selecting Scan-Based Testability Improving Technique",
  booktitle="Proc. of 8th IEEE Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems Workshop",
  year="2005",
  pages="186--189",
  publisher="University of West Hungary",
  address="Sopron",
  isbn="963-9364-48-7",
  url="http://www.fit.vutbr.cz/~pecenka/pubs/2005_ddecs_scan.pdf"
}
Nahoru