Detail publikace
Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory
Zbořil František, doc. Ing., CSc. (UITS)
Neuronové sítě, Kombinační logické obvody, Generování testovacích vzorů
V příspěvku je popsáno neobvyklé použití Hopfieldovy neuronové sítě pro generování testovacích vektorů pro testování kombinačních logických obvodů. Nejprve jsou navrženy neuronové podsítě generující signály odpovídající funkcím standardních hradel a poté je ukázáno jejich spojování do sítě representující složitý obvod. Pro generování testovacích vektorů jsou vytvořeny dvě identické sítě, do libovolné z nich je pak zavedena chyba a výstupy obou sítí jsou spojeny dohromady pomcí obvodu nonekvivalence. Výsledná síť se snaží přejít do stavu s minimální energií, která odpovídá správným signálům na všech prvcích obvodu a tím nalezne kombinaci vstupních signálů vedoucí k odhalení zavedené chyby. Metoda byla ověřena na obvodech obsahujících řádově desítky hradel, dosažené výsledky jsou v příspěvku prezentovány.
@inproceedings{BUT191442,
author="Zdeněk {Kotásek} and František {Zbořil}",
title="Nonstandard Automatic Test Pattern Generation Based on Neural Network Theory",
booktitle="Proceedings of the ECI'98",
year="1998",
pages="75--80",
publisher="Slovak Academy of Science",
address="Herlany",
isbn="80-88786-94-0"
}