Detail publikace

27th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems

DENIZIAK, S.; SITEK, P.; JENIHHIN, M.; STEININGER, A.; SCHÖLZEL, M.; MRÁZEK, V. 27th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems. Kliece: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2024. p. 0-0. ISBN: 979-8-3503-5934-3.
Název česky
24. mezinárodní sympozium o návrhu a diagnostice elektronických obvodů a systémů
Typ
konferenční sborník (ne článek)
Jazyk
anglicky
Autoři
DENIZIAK, S.
SITEK, P.
JENIHHIN, M.
Steininger Andreas, Prof. Dr.
SCHÖLZEL, M.
Mrázek Vojtěch, Ing., Ph.D. (UPSY)
URL
Klíčová slova

electronic circuit, design, test, design method, digital circuit, analog circuit

Abstrakt

Tento sborník obsahuje recenzované články přijaté k prezentaci a publikaci na 27. mezinárodním sympoziu Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS2024). Od svého vzniku v roce 1997 DDECS kontinuálně poskytuje fórum pro výměnu názorů, diskuzi výzkumných výsledků a prezentaci praktických aplikací v oblastech návrhu, testování a diagnostiky elektronických obvodů a systémů.

Rok
2024
Strany
155
ISBN
979-8-3503-5934-3
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Kliece
DOI
10.1109/DDECS60919.2024
BibTeX 
@proceedings{BUT188622,
  editor="DENIZIAK, S. and SITEK, P. and JENIHHIN, M. and STEININGER, A. and SCHÖLZEL, M. and MRÁZEK, V.",
  title="27th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems",
  year="2024",
  pages="155",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="Kliece",
  doi="10.1109/DDECS60919.2024",
  isbn="979-8-3503-5934-3",
  url="https://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=10508803"
}
Nahoru