Detail publikace

Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations

KUNOVSKÝ, J.; TOMICA, P.; PETŘEK, J. Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations. In Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05. Ostrava: 2005. p. 128-134. ISBN: 80-86840-10-7.
Název česky
Parazitní Jevy v Elektronických Simulacích
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Kunovský Jiří, doc. Ing., CSc.
Tomica Petr, Ing.
Petřek Jiří, Ing.
Klíčová slova

stiff system, taylor series method, circuits simulation

Abstrakt

Řešení elektických obvodů představuje typickou aplikaci pro diferenciální počet. Problémy nastávají u stiff (tuhých) diferenciálních rovnic, specielně v případě parazitních prvků elektronických obvodů.

Rok
2005
Strany
128–134
Sborník
Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05
ISBN
80-86840-10-7
Místo
Ostrava
BibTeX 
@inproceedings{BUT18065,
  author="Jiří {Kunovský} and Petr {Tomica} and Jiří {Petřek}",
  title="Parasitic Effects in Electronic Circuits Simulations",
  booktitle="Proceedings of 39th International Conference MOSIS '05",
  year="2005",
  pages="128--134",
  address="Ostrava",
  isbn="80-86840-10-7"
}
Nahoru