Detail publikace

Educational Tool for the Demonstration of Dft Principles Based on Scan Methodologies

STRNADEL, J., KOTÁSEK, Z. Educational Tool for the Demonstration of Dft Principles Based on Scan Methodologies. In Proceedings of 8th Euromicro Conference on Digital System Design. Los Alamitos: IEEE Computer Society, 2005. p. 420-427. ISBN: 0-7695-2433-8.
Název česky
Výukový nástroj pro demonstraci principů scan technik v oblasti návrhu pro snadnou testovatelnost
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Klíčová slova

scan, scan layout selection, testability, design for testability, register-transfer level, automatization, genetic algorithm, feedback loops, design constraints, trade-off

Abstrakt

Článek se zabývá možnostmi nástroje Scan Educational Tool sloužícím k výuce principů tzv. scan techniky. Ve článku jsou představeny všechny moduly a režimy činnosti nástroje a nastíněny směry jeho možného využití ve výuce.

Rok
2005
Strany
420–427
Sborník
Proceedings of 8th Euromicro Conference on Digital System Design
ISBN
0-7695-2433-8
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Los Alamitos
BibTeX 
@inproceedings{BUT18060,
  author="Josef {Strnadel} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Educational Tool for the Demonstration of Dft Principles Based on Scan Methodologies",
  booktitle="Proceedings of 8th Euromicro Conference on Digital System Design",
  year="2005",
  pages="420--427",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Los Alamitos",
  isbn="0-7695-2433-8"
}
Nahoru