Detail publikace

Automatically Checking Semantic Equivalence between Versions of Large-Scale C Projects

MALÍK, V.; VOJNAR, T. Automatically Checking Semantic Equivalence between Versions of Large-Scale C Projects. In 2021 14th IEEE Conference on Software Testing, Verification and Validation (ICST). Porto de Galinhas: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2021. p. 329-339. ISBN: 978-1-7281-6837-1.
Název česky
Automatická kontrola sémantické ekvivalence mezi verzemi velkých projektů v jazyce C
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
URL
Klíčová slova

semantic equivalence, refactoring, static analysis, semantics-preserving patterns, refactoring patterns

Abstrakt

Práce se zaměřuje na softvérové projekty, které potřebují zabezpečit stabilitu některých jejich částí napříč různými verzemi. Pro takovéto projekty navrhujeme vysoce škálovatelný přístup pro automatickou kontrolu sémantické ekvivalence verzí programů napsaných v jazyce C s osobitým zaměřením na jádro operačního systému Linux. Navržená metoda používá kombinaci vyhledávání vzorů, efektivních statických analýz a transformací toku řízení. I když metoda nedokáže formálně dokázat ekvivalenci výrazně reimplementovaných programů, je schopna porovnat tisíce funkcí v řádu minut přičemž produkuje jen malé množství chybných výsledků, jak prokazují naše experimenty. Metoda byla implementována v rámci nástroje DiffKemp a narozdíl od jiných metod dokáže analyzovat i projekty o velikosti Linuxového kernelu.

Rok
2021
Strany
329–339
Sborník
2021 14th IEEE Conference on Software Testing, Verification and Validation (ICST)
ISBN
978-1-7281-6837-1
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Porto de Galinhas
DOI
UT WoS
000680831800033
EID Scopus
BibTeX
@inproceedings{BUT175787,
  author="Viktor {Malík} and Tomáš {Vojnar}",
  title="Automatically Checking Semantic Equivalence between Versions of Large-Scale C Projects",
  booktitle="2021 14th IEEE Conference on Software Testing, Verification and Validation (ICST)",
  year="2021",
  pages="329--339",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="Porto de Galinhas",
  doi="10.1109/ICST49551.2021.00045",
  isbn="978-1-7281-6837-1",
  url="https://ieeexplore.ieee.org/document/9438578"
}
Nahoru