Detail publikace

Survey of Partial Scan Methodologies

KOTÁSEK, Z. Survey of Partial Scan Methodologies. In Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project. Bratislava: Slovak Academy of Science, 2004. p. 1 ( p.)
Název česky
Přehled metodik typu Partial Scan
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Klíčová slova

digital circuit testability, test application

Abstrakt

Metodiky Partial scan jsou viděny jako alternativa k metodám aplikace testu. V příspěvku je uveden přehled těchto metodik.

Rok
2004
Strany
77
Sborník
Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project
Vydavatel
Slovak Academy of Science
Místo
Bratislava
BibTeX 
@inproceedings{BUT17574,
  author="Zdeněk {Kotásek}",
  title="Survey of Partial Scan Methodologies",
  booktitle="Research and Training Action for System on Chip Design, 5th FP Project",
  year="2004",
  pages="77",
  publisher="Slovak Academy of Science",
  address="Bratislava"
}
Nahoru