Detail publikace

Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits

PEČENKA, T., KOTÁSEK, Z., SEKANINA, L., STRNADEL, J. Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits. In Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004. Montpellier: IEEE Computer Society, 2004. p. 107-108. ISBN: 000000000.
Název česky
Evoluční návrh testovacích obvodů na úrovni RT
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Pečenka Tomáš, Ing., Ph.D.
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
URL
Klíčová slova

testovací obvody na úrovni RT, analýza testovatelnosti na úrovni RT, evoluční techniky

Abstrakt

V příspěvku je popsána možnost využití evolučních postupů pro vytváření struktur testovacích obvodů se širokou škálou parametrů testovatelnosti. Pro určení hodnoty fitness funkce je použita metoda založená na analytickém vyhodnocení paremetrů testovatelnosti. Řešení, která není možno syntetizovat návrhovým systémem jsou vyloučena. Pomocí této metodiky byly vygenerovány obvody s požadovanými a předem definovanými parametry řiditelnosti/pozorovatelnosti. Výstupem metodiky je popis struktury obdvodu ve VHDL. V článku jsou vyhodnoceny výsledky metodiky a jsou také naznačeny možné směry dalšího vývoje výzkumných prací.

Rok
2004
Strany
107–108
Sborník
Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004
ISBN
000000000
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Montpellier
BibTeX 
@inproceedings{BUT17130,
  author="Tomáš {Pečenka} and Zdeněk {Kotásek} and Lukáš {Sekanina} and Josef {Strnadel}",
  title="Evolutionary Design of Synthetic RTL Benchmark Circuits",
  booktitle="Informal Digest of Papers, IEEE European Test Workshop 2004",
  year="2004",
  pages="107--108",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Montpellier",
  isbn="000000000",
  url="http://www.fit.vutbr.cz/~kotasek/pub/ets_04.pdf"
}
Nahoru