Detail publikace

24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems

SHAFIQUE, M.; STEININGER, A.; SEKANINA, L.; KRSTIĆ, M.; STOJANOVIC, G.; MRÁZEK, V. 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems. USA: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2021. p. 0-0. ISBN: 978-1-6654-3595-6.
Název česky
24. mezinárodní sympozium o návrhu a diagnostice elektronických obvodů a systémů
Typ
konferenční sborník (ne článek)
Jazyk
anglicky
Autoři
Shafique Muhammad (FIT)
Steininger Andreas, Prof. Dr.
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
KRSTIĆ, M.
STOJANOVIC, G.
Mrázek Vojtěch, Ing., Ph.D. (UPSY)
Klíčová slova

electronic circuit, design, test, design method, digital circuit, analog circuit

Abstrakt

Tento sborník obsahuje recenzované články přijaté k prezentaci a publikaci na 24. mezinárodním sympoziu Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS2021). Od svého vzniku v roce 1997 DDECS kontinuálně poskytuje fórum pro výměnu názorů, diskuzi výzkumných výsledků a prezentaci praktických aplikací v oblastech návrhu, testování a diagnostiky elektronických obvodů a systémů.

Rok
2021
Strany
158
ISBN
978-1-6654-3595-6
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
USA
DOI
10.1109/DDECS52668.2021.9417019
EID Scopus
2-s2.0-85105554198
BibTeX 
@proceedings{BUT171158,
  editor="SHAFIQUE, M. and STEININGER, A. and SEKANINA, L. and KRSTIĆ, M. and STOJANOVIC, G. and MRÁZEK, V.",
  title="24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems",
  year="2021",
  pages="158",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="USA",
  doi="10.1109/DDECS52668.2021.9417019",
  isbn="978-1-6654-3595-6"
}
Nahoru