Detail publikace
High-speed stateful packet classifier based on TSS algorithm optimized for off-chip memories
Beneš Tomáš, Ing.
100G; cache, externí paměť, FPGA, LSU, vysokorychlostní sítě, Open vSwitch, OpenFlow, vykonávání mimo pořadí, paketová klasifikace, SmartNIC, TSS
Tato práce prezentuje modulární architekturu stavového paketového klasifikátoru s vykonáváním mimo pořadí. Architektura využívá paměť DDR4 SDRAM pro uložení milionů klasifikačních pravidel i s jejich stavovou informací. Přístup do paměti generovaný síťovým provozem výrazně degraduje propustnost DDR4 pamětí. Tato architektura obsahuje cache a agregační fronty, aby tento problém zmírnila. Paměťový subsystém také podporuje rušení transakcí a využívá zpracování mimo pořadí i na úrovní paketů v hlavní zřetězené lince pro další zvýšení propustnosti. Implementace aktualizace pravidel je neblokující a může běžet během běžné klasifikace bez dopadů na výkon. Aktualizace může probíhat na stejných rychlostech jako vlastní vyhledávání. Architektura je optimalizovaná pro síťový provoz sítí moderních datacenter a nízkou spotřebu paměti na čipu. Díky tomu je vhodná pro implementaci virtuálních přepínačů jako je Open vSwitch. Výsledná architektura s konfigurací o velikosti milionů exact match pravidel dokáže zpracovávat provoz až na rychlosti 202 Gbit/s (300Mp/s) v případě obvyklých velikosti paketu až 51 Gbit/s (76 Mp/s) v nejhorším případě s nejkratšími pakety s použitím běžně dostupné dvoukanálové 64 bitové DDR4-2666 MHz. Architektura využívá méně zdrojů FPGA (bez započítání paměti cache) než de facto standardní Xilinx MIG DDR4 řadič. Prezentovaná architektura umožňuje použít levné komoditní FPGA karty s DDR4 pamětmi pro zpracování provozu na 100Gbit/s sítích, což představuje výrazné snížení celkové ceny zařízení pro tyto úlohy.
@inproceedings{BUT169540,
author="Michal {Orsák} and Tomáš {Beneš}",
title="High-speed stateful packet classifier based on TSS algorithm optimized for off-chip memories",
booktitle="Proceedings - 2021 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2021",
year="2021",
pages="151--156",
publisher="CESNET National Research and Education Network",
address="Vídeň",
doi="10.1109/DDECS52668.2021.9417060",
isbn="978-1-6654-3595-6",
url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/12457/"
}