Detail publikace

Design, Verification, Test and In-Field Implications of Approximate Computing Systems

BOSIO, A.; DI CARLO, S.; GIRARD, P.; SANCHEZ, E.; SAVINO, A.; SEKANINA, L.; TRAIOLA, M.; VAŠÍČEK, Z.; VIRAZEL, A. Design, Verification, Test and In-Field Implications of Approximate Computing Systems. In 25th IEEE European Test Symposium. Los Alamitos: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020. p. 1-10. ISBN: 978-1-7281-4312-5.
Název česky
Návrh, verifikace, testování a dopady nasazování aproximativních počítačových systémů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
BOSIO, A.
DI CARLO, S.
GIRARD, P.
SANCHEZ, E.
SAVINO, A.
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
TRAIOLA, M.
Vašíček Zdeněk, doc. Ing., Ph.D. (UPSY)
VIRAZEL, A.
URL
Klíčová slova

approximate computing, circuit, design, test

Abstrakt

V současnosti je koncept aproximativního počítání stále více aplikován s cílem snížit energetickou náročnost, latenci a složitost výpočetních systémů. Namísto provádění přesných výpočtů, které vyžadují velké množství zdrojů, je aproximativní počítání zaměřeno na selektivní relaxaci specifikace a hledání kompromisů mezi přesností a energetickou náročností. Aproximativní počítání je slibné řešení, pokud jde o výkonnost, energetickou účinnost a složitost. Na druhou stranu představuje značné výzvy v oblastech návrhu, verifikace, testování a spolehlivosti aproximativních výpočetních systémů nasazených v konkrétních aplikacích. Tento tutoriál pojednává o těchto aspektech a využívá zkušenosti autorů k prezentaci nejmodernějších řešení, které je možné aplikovat během vývoje výpočetních systémů spoléhajících se na principy aproximativního počítání.

Rok
2020
Strany
1–10
Sborník
25th IEEE European Test Symposium
ISBN
978-1-7281-4312-5
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Los Alamitos
DOI
10.1109/ETS48528.2020.9131557
UT WoS
000615974000003
EID Scopus
2-s2.0-85089145901
BibTeX 
@inproceedings{BUT168125,
  author="BOSIO, A. and DI CARLO, S. and GIRARD, P. and SANCHEZ, E. and SAVINO, A. and SEKANINA, L. and TRAIOLA, M. and VAŠÍČEK, Z. and VIRAZEL, A.",
  title="Design, Verification, Test and In-Field Implications of Approximate Computing Systems",
  booktitle="25th IEEE European Test Symposium",
  year="2020",
  pages="1--10",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="Los Alamitos",
  doi="10.1109/ETS48528.2020.9131557",
  isbn="978-1-7281-4312-5",
  url="https://ieeexplore.ieee.org/document/9131557"
}
Nahoru