Detail publikace

Automatic Design of Reliable Systems Based on the Multiple-choice Knapsack Problem

LOJDA, J.; PODIVÍNSKÝ, J.; ČEKAN, O.; PÁNEK, R.; KRČMA, M.; KOTÁSEK, Z. Automatic Design of Reliable Systems Based on the Multiple-choice Knapsack Problem. In Proceedings - 2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020. Novi Sad: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2020. p. 1-4. ISBN: 978-1-7281-9938-2.
Název česky
Automatický návrh spolehlivých systémů založený na Multiple-choice Knapsack Problem
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY)
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Čekan Ondřej, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Pánek Richard, Ing. (UPSY)
Krčma Martin, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Klíčová slova

Návrh systémů odolných proti poruchám, automatizace návrhu elektroniky, multiple-choice knapsack problem, odhad odolnosti proti poruchám, verifikace, vysokoúrovňová syntéza

Abstrakt

Tento paper vyhodnocuje praktické využití Multiple-choice Knapsack Problem (MCKP) solveru k automatické volbě vhodného typu ošetření pro každou z komponent systému za účelem zvýšení celkové odolnosti proti poruchám tohoto systému. Využití MCKP je umístěno do kontextu s naším nástrojem pro automatický návrh systémů odolných proti poruchám, jehož cílem je kompletní automatizace procesu transformace systému neodolného na systém odolný. Přitom se zaměřujeme na obecnost celého procesu. Náš výzkum prezentujeme na hradlových polích Field Programmable Gate Array (FPGA), pro která jsme vyvinuli konkrétní komponenty nástroje pro podporu automatického návrhu systémů odolných proti poruchám. Paper rovněž prezentuje případovou studii, kde MCKP solver dosáhl na zvoleném systému o 18 % méně tzv. kritických bitů bitstreamu FPGA ve srovnání s předchozím přístupem, zatímco navíc byla snížena velikost samotného obvodu. Výsledky naznačují, že rozdělením systému na menší části a zabezpečením těchto částí s využitím MCKP solveru je možno dosáhnout podstatně lepších výsledků odolnosti proti poruchám.

Rok
2020
Strany
1–4
Sborník
Proceedings - 2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020
ISBN
978-1-7281-9938-2
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Novi Sad
DOI
10.1109/DDECS50862.2020.9095576
UT WoS
000587761500006
EID Scopus
2-s2.0-85085861470
BibTeX 
@inproceedings{BUT164065,
  author="Jakub {Lojda} and Jakub {Podivínský} and Ondřej {Čekan} and Richard {Pánek} and Martin {Krčma} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Automatic Design of Reliable Systems Based on the Multiple-choice Knapsack Problem",
  booktitle="Proceedings - 2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2020",
  year="2020",
  pages="1--4",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="Novi Sad",
  doi="10.1109/DDECS50862.2020.9095576",
  isbn="978-1-7281-9938-2",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/12100/"
}
Nahoru