Detail publikace

Statistical Model Checking of Approximate Circuits: Challenges and Opportunities

STRNADEL, J. Statistical Model Checking of Approximate Circuits: Challenges and Opportunities. In Proceedings of the 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE). Grenoble: IEEE Computer Society, 2020. p. 1574-1577. ISBN: 978-3-9819263-4-7.
Název česky
Statistické ověřování modelů aproximativních obvodů: výzvy a příležitosti
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
URL
Klíčová slova

approximate circuit, error, trade-off, relaxed equivalence, formal verification, timed automaton, stochastic automaton, modeling, simulation, statistical model checking

Abstrakt

Řada prací ukázala, že tzv. aproximativní obvody mohou hrát důležitou roli při vývoji zohledňujícím efektivní využití prostředků elektronických systémů. To motivuje mnohé výzkumníky k návrhu nových přístupů při hledání optimálního kompromisu mezi aproximační chybou a úsporami prostředků prodané aplikace aproximativních obvodů. Tyto práce a přístupy se však zaměřují především na návrhová hlediska související se rozvolněním funkčních požadavků, avšak další hlediska (např. dynamiku/stochastičnost signálů a parametrů, rozvolněnou/nefunkční ekvivalenci, testování a formální verifikaci) opomíjejí. Tento článek se snaží představit krok směrem k formální verifikaci časově závislých vlastností systémů založených na aproximativních obvodech. Nejprve článek představuje náš přístup k modelování těchto systémů prostředky stochastických časovaných automatů, přičemž tento přístup přesahuje hranice číslicových, kombinačních a/nebo synchronních obvodů, jelikož je aplikovatelný i v oblastech sekvenčních, analogových a asynchronních obvodů. Dále - článek ukazuje princip a výhody ověřování vlastností modelovaných aproximativních systémů pomocí techniky statistického ověřování modelů. Konečně, článek zhodnocuje náš přístup a nastiňuje možné směry našeho dalšího výzkumu.

Rok
2020
Strany
1574–1577
Sborník
Proceedings of the 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
ISBN
978-3-9819263-4-7
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Grenoble
DOI
10.23919/DATE48585.2020.9116207
UT WoS
000610549200286
EID Scopus
2-s2.0-85087430399
BibTeX 
@inproceedings{BUT162083,
  author="Josef {Strnadel}",
  title="Statistical Model Checking of Approximate Circuits: Challenges and Opportunities",
  booktitle="Proceedings of the 2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)",
  year="2020",
  pages="1574--1577",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Grenoble",
  doi="10.23919/DATE48585.2020.9116207",
  isbn="978-3-9819263-4-7",
  url="https://ieeexplore.ieee.org/document/9116207"
}
Nahoru