Detail publikace
Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards
ČEKAN, O.; PODIVÍNSKÝ, J.; LOJDA, J.; PÁNEK, R.; KRČMA, M.; KOTÁSEK, Z. Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards. In Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design. Kalithea: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019. p. 506-513. ISBN: 978-1-7281-2861-0.
Název česky
Testování spolehlivosti chytrých elektronických zámků: analýza a první kroky
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Čekan Ondřej, Ing., Ph.D.
(UFYZ)
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY)
Pánek Richard, Ing. (UPSY)
Krčma Martin, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY)
Pánek Richard, Ing. (UPSY)
Krčma Martin, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Klíčová slova
Elektronický zámek, krokový motor, FPGA, odolnost proti poruchám, generování stimulů, rekonfigurace.
Abstrakt
Tento příspěvek analyzuje elektronické chytré zámky a zkoumá vliv poruch na jejich řídící jednotku. Jako mechanický člen zámku bývá ve většině případů používán krokový motor. Řídící jednotka chytrého zámku bývá implementována typicky v procesoru. Cílem tohoto příspěvku je ověření chování chytrých zámků v případě poruchy na řídících signálech krokového motoru.
Rok
2019
Strany
506–513
Sborník
Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design
ISBN
978-1-7281-2861-0
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Kalithea
DOI
UT WoS
000722275400070
EID Scopus
BibTeX
@inproceedings{BUT159970,
author="Ondřej {Čekan} and Jakub {Podivínský} and Jakub {Lojda} and Richard {Pánek} and Martin {Krčma} and Zdeněk {Kotásek}",
title="Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards",
booktitle="Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design",
year="2019",
pages="506--513",
publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
address="Kalithea",
doi="10.1109/DSD.2019.00079",
isbn="978-1-7281-2861-0",
url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/11968/"
}