Detail publikace

Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards

ČEKAN, O.; PODIVÍNSKÝ, J.; LOJDA, J.; PÁNEK, R.; KRČMA, M.; KOTÁSEK, Z. Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards. In Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design. Kalithea: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019. p. 506-513. ISBN: 978-1-7281-2861-0.
Název česky
Testování spolehlivosti chytrých elektronických zámků: analýza a první kroky
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Klíčová slova

Elektronický zámek, krokový motor, FPGA, odolnost proti poruchám, generování stimulů, rekonfigurace.

Abstrakt

Tento příspěvek analyzuje elektronické chytré zámky a zkoumá vliv poruch na jejich řídící jednotku. Jako mechanický člen zámku bývá ve většině případů používán krokový motor. Řídící jednotka chytrého zámku bývá implementována typicky v procesoru. Cílem tohoto příspěvku je ověření chování chytrých zámků v případě poruchy na řídících signálech krokového motoru.

Rok
2019
Strany
506–513
Sborník
Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design
ISBN
978-1-7281-2861-0
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Kalithea
DOI
UT WoS
000722275400070
EID Scopus
BibTeX
@inproceedings{BUT159970,
  author="Ondřej {Čekan} and Jakub {Podivínský} and Jakub {Lojda} and Richard {Pánek} and Martin {Krčma} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Testing Reliability of Smart Electronic Locks: Analysis and the First Steps Towards",
  booktitle="Proceedings of the 2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design",
  year="2019",
  pages="506--513",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="Kalithea",
  doi="10.1109/DSD.2019.00079",
  isbn="978-1-7281-2861-0",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/11968/"
}
Nahoru