Detail publikace

Reliability Indicators for Automatic Design and Analysis of Fault-Tolerant FPGA Systems

LOJDA, J.; PODIVÍNSKÝ, J.; KOTÁSEK, Z. Reliability Indicators for Automatic Design and Analysis of Fault-Tolerant FPGA Systems. In 20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019). Santiago: IEEE Computer Society, 2019. p. 93-96. ISBN: 978-1-7281-1756-0.
Název česky
Ukazatele spolehlivosti pro automatický návrh a analýzu FPGA systémů odolných proti poruchám
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY)
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Klíčová slova

Vyhodnocení odolnosti proti poruchám, automatický návrh systémů odolných proti poruchám, analýza, FPGA, FT-EST, vysokoúrovňová syntéza, Catapult C, Redundantní datové typy

Abstrakt

S pronikáním elektronických systémů do oblastí, kde je vyžadována vysoká spolehlivost, vznikají nové metody, které zakomponují spolehlivost do neošetřených systémů. Před samotným využitím těchto metod je nutné danou metodu prakticky otestovat a ohodnotit její účinnost pro danou aplikaci. V našem výzkumu se obecně zabýváme možností urychlení vývoje spolehlivých systémů pomocí automatizace. Pro tyto účely je však vhodné mít rovněž způsob automatického ohodnocení spolehlivosti daného systému. V naší předchozí práci jsme představili FT-EST (Fault Tolerance ESTimation) framework, který slouží k testování elektronických systémů implementovaných do FPGA a zaměřuje se na minimalizaci uživatelské interakce a především na akceleraci samotného testu. V této publikaci využíváme informace obdržené ze zmíněného frameworku k detailnímu ohodnocení systému, jež zachová jisté aspekty oproti pouhému vyčíslení procentuálního zastoupení kritických bitů bitstreamu FPGA. Ve výzkumu se zaměřujeme na SRAM FPGA a jazyk VHDL a C++ v kombinaci s nástroji vysokoúrovňové syntézy (High-level Synthesis, HLS).

Rok
2019
Strany
93–96
Sborník
20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019)
Konference
IEEE Latin American Test Symposium, Hotel Fundador, Santiago de Chile, CL
ISBN
978-1-7281-1756-0
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Santiago
DOI
UT WoS
000469850000022
EID Scopus
BibTeX
@inproceedings{BUT156291,
  author="Jakub {Lojda} and Jakub {Podivínský} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Reliability Indicators for Automatic Design and Analysis of Fault-Tolerant FPGA Systems",
  booktitle="20th IEEE Latin American Test Symposium (LATS 2019)",
  year="2019",
  pages="93--96",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Santiago",
  doi="10.1109/LATW.2019.8704593",
  isbn="978-1-7281-1756-0",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/11870/"
}
Nahoru