Detail publikace

The MegaM@Rt2 ECSEL Project: MegaModelling at Runtime - Scalable Model-Based Framework for Continuous Development and Runtime Validation of Complex Systems

AFZAL, W.; BRUNELIERE, H.; DI RUSCIO, D.; SADOVYKH, A.; MAZZINI, S.; CARIOU, E.; TRUSCAN, D.; CABOT, J.; FIELD, D.; POMANTE, L.; SMRŽ, P. The MegaM@Rt2 ECSEL Project: MegaModelling at Runtime - Scalable Model-Based Framework for Continuous Development and Runtime Validation of Complex Systems. In Proceedings of the Euromicro Conference on Digital System Design (DSD). Vienna: IEEE Computer Society, 2018. p. 494-501. ISBN: 978-1-5386-2146-2.
Název česky
Projekt ECSEL MegaM@Rt2 - MegaModelování v době běhu - škálovatelný rámec založený na modelu pro plynulý vývoj a ověřování v době běhu komplexních systémů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
AFZAL, W.
BRUNELIERE, H.
DI RUSCIO, D.
SADOVYKH, A.
MAZZINI, S.
CARIOU, E.
TRUSCAN, D.
CABOT, J.
FIELD, D.
POMANTE, L.
Smrž Pavel, doc. RNDr., Ph.D. (UPGM)
Klíčová slova

model-driven engineering, design time, run time, traceability, megamodelling

Abstrakt

Projekt MegaM@Rt vytvoří rámec zahrnující metody a nástroje pro plynulý vývoj a ověřování v době běhu, které zásadním způsobem zvýší produktivitu, kvalitu a předpověditelnost výsledků velkých a komplexních systémů.

Rok
2018
Strany
494–501
Sborník
Proceedings of the Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)
ISBN
978-1-5386-2146-2
Vydavatel
IEEE Computer Society
Místo
Vienna
DOI
10.1109/DSD.2017.50
UT WoS
000427097100071
EID Scopus
2-s2.0-85034427539
BibTeX 
@inproceedings{BUT155892,
  author="AFZAL, W. and BRUNELIERE, H. and DI RUSCIO, D. and SADOVYKH, A. and MAZZINI, S. and CARIOU, E. and TRUSCAN, D. and CABOT, J. and FIELD, D. and POMANTE, L. and SMRŽ, P.",
  title="The MegaM@Rt2 ECSEL Project: MegaModelling at Runtime - Scalable Model-Based Framework for Continuous Development and Runtime Validation of Complex Systems",
  booktitle="Proceedings of the Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)",
  year="2018",
  pages="494--501",
  publisher="IEEE Computer Society",
  address="Vienna",
  doi="10.1109/DSD.2017.50",
  isbn="978-1-5386-2146-2"
}
Nahoru