Detail publikace

Modular Framework for Detection of Inter-ictal Spikes in iEEG

KEŠNER, F.; SEKANINA, L.; BRÁZDIL, M. Modular Framework for Detection of Inter-ictal Spikes in iEEG. In The 39th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC'17). Los Alamos: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2017. p. 418-421. ISBN: 978-1-5090-2809-2.
Název česky
Modulární systém pro detekci interiktálních kmitů v iEEG
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Kešner Filip, Ing.
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
BRÁZDIL, M.
Klíčová slova

Detectors, Electroencephalography, Epilepsy, Feature extraction, Indexes, Sensitivity, Standards

Abstrakt

V článku představujeme nový modulární přístup k detekci interiktálních kmitů v záznamech iEEG u pacientů, u kterých se vyskytuje farmakorezistentní forma epilepsie. Detekční platforma sestává ze tří hlavních modulů: detektoru na první úrovni, příznakového detektoru na druhé úrovni a klasifikátoru na třetí úrovni. Implementace těchto modulů mohou být dle potřeby nahrazovány různými verzemi s cílem adaptovat kvalitu detekce (měřenou citlivostí, přesností nebo robustností) a výpočetní náročností. Za pomoci komplexních datových sad bylo prokázáno, že navržený přístup vykazuje vysokou přesnost a citlivost klasifikace a současně významně redukuje dobu výpočtu vzhledem k ostatním uvažovaným metodám.

Rok
2017
Strany
418–421
Sborník
The 39th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC'17)
ISBN
978-1-5090-2809-2
Vydavatel
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Místo
Los Alamos
DOI
10.1109/EMBC.2017.8036851
UT WoS
000427085300104
EID Scopus
2-s2.0-85032204682
BibTeX 
@inproceedings{BUT144409,
  author="Filip {Kešner} and Lukáš {Sekanina} and Milan {Brázdil}",
  title="Modular Framework for Detection of Inter-ictal Spikes in iEEG",
  booktitle="The 39th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society (EMBC'17)",
  year="2017",
  pages="418--421",
  publisher="Institute of Electrical and Electronics Engineers",
  address="Los Alamos",
  doi="10.1109/EMBC.2017.8036851",
  isbn="978-1-5090-2809-2",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/11333/"
}
Nahoru