Detail publikace

Functional Verification Based Platform for Evaluating Fault Tolerance Properties

PODIVÍNSKÝ, J.; ČEKAN, O.; LOJDA, J.; ZACHARIÁŠOVÁ, M.; KRČMA, M.; KOTÁSEK, Z. Functional Verification Based Platform for Evaluating Fault Tolerance Properties. Microprocessors and Microsystems, 2017, vol. 52, no. 5, p. 145-159. ISSN: 0141-9331.
Název česky
Platforma pro ověřování odolnosti proti poruchám založena na funkční verifikaci
Typ
článek v časopise
Jazyk
anglicky
Autoři
Podivínský Jakub, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Čekan Ondřej, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Lojda Jakub, Ing., Ph.D. (UPSY)
Zachariášová Marcela, Ing., Ph.D. (UPSY)
Krčma Martin, Ing., Ph.D. (UFYZ)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
URL
Klíčová slova

Funkční verifikace, řadič robota, elektro-mechanický systém, odolnost proti poruchám, generování bludiště

Abstrakt

Náplní tohoto článku je propojení technik funkční verifikace s mechanismy pro zajištění odolnosti proti poruchám v systémech založených na FPGA. V článku je představena platforma pro ověřování odolnosti proti poruchám propojující funkční verifikaci s injekci poruch do FPGA a tato platforma je demonstrována na experimentálním elektro-mechanickém systému, kterým je robot pro hledání cesty v bludišti. V tomto článku jsou řešeny dílčí problémy, jako je rozbor různých technik implementace elektronického řadiče na FPGA a jejich vliv na vlastnosti verifikačního prostředí. Důležitým prvkem celého systému je také generování verifikačních scénářů, což je v článku také zmíněno. Celý článek je završen sadou experimentů s experimentálním elektro-mechanickým systémem.

Rok
2017
Strany
145–159
Časopis
Microprocessors and Microsystems, roč. 52, č. 5, ISSN 0141-9331
DOI
10.1016/j.micpro.2017.06.004
UT WoS
000407984000013
EID Scopus
2-s2.0-85020644987
BibTeX 
@article{BUT144405,
  author="Jakub {Podivínský} and Ondřej {Čekan} and Jakub {Lojda} and Marcela {Zachariášová} and Martin {Krčma} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Functional Verification Based Platform for Evaluating Fault Tolerance Properties",
  journal="Microprocessors and Microsystems",
  year="2017",
  volume="52",
  number="5",
  pages="145--159",
  doi="10.1016/j.micpro.2017.06.004",
  issn="0141-9331",
  url="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0141933117300200"
}
Nahoru