Detail publikace

Easily Testable Image Operators: The Class of Circuits Where Evolution Beats Engineers

SEKANINA, L.; RŮŽIČKA, R. Easily Testable Image Operators: The Class of Circuits Where Evolution Beats Engineers. The 2003 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 2003. p. 135-144. ISBN: 0-7695-1977-6.
Název česky
Snadno testovatelné obrazové operátory: Třída obvodů, kde evoluční návrh poráží inženýry
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Sekanina Lukáš, prof. Ing., Ph.D. (UPSY)
Růžička Richard, doc. Ing., Ph.D., MBA (UPSY)
URL
Klíčová slova

digital circuit, evolvable hardware, testability, image operator

Abstrakt

Článek se zabývá snadno testovatelnými obrazovými operátory - třídou obvodů, kde evoluční návrh poráží inženýry. Evoluční algorimus je využit pro automatický návrh obrazových operátorů.

Rok
2003
Strany
135–144
Sborník
The 2003 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware
ISBN
0-7695-1977-6
Vydavatel
IEEE Computer Society Press
Místo
Los Alamitos
BibTeX 
@inproceedings{BUT13980,
  author="Lukáš {Sekanina} and Richard {Růžička}",
  title="Easily Testable Image Operators: The Class of Circuits Where Evolution Beats Engineers",
  booktitle="The 2003 NASA/DoD Conference on Evolvable Hardware",
  year="2003",
  pages="135--144",
  publisher="IEEE Computer Society Press",
  address="Los Alamitos",
  isbn="0-7695-1977-6",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/7186/"
}
Nahoru