Detail publikace

Algebraic Analysis of Feedback Loop Dependencies in Order of Improving RTL Digital Circuit Testability

STRNADEL, J. Algebraic Analysis of Feedback Loop Dependencies in Order of Improving RTL Digital Circuit Testability. Proceedings of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems. Poznan: Publishing House of Poznan University of Technology, 2003. p. 303-304. ISBN: 83-7143-557-6.
Název česky
Algebraická analýza závislostí zpětnovazebních smyček vedoucí ke zlepšení testovatelnosti RTL číslicových obvodů
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
Klíčová slova

Feedback vertex set problem, feedback arc set problem, loop coverage, loop dependencies, algebraic analysis, linear algebra, matrix operations

Abstrakt

Existence smyček v obvodové struktuře vede k problémům jak při generování testu tak při jeho aplikaci. Existují-li v obvodu zpětnotnovazební smyčky, pak je za účelem radikálního zlepšení testovatelnosti obvodu za minimální cenu výhodné tzv. rozbít co nejmenší počet nejvíce zanořených smyček, čímž dojde k požadovanému nárůstu testovatelnosti obvodu za minimální cenu. Ve článku je prezentována metoda výběru a rozbití (pokrytí) smyček tzv. scan registry vkládanými do struktury RTL číslicových obvodů.

Rok
2003
Strany
303–304
Sborník
Proceedings of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems
ISBN
83-7143-557-6
Vydavatel
Publishing House of Poznan University of Technology
Místo
Poznan
BibTeX 
@inproceedings{BUT13959,
  author="Josef {Strnadel}",
  title="Algebraic Analysis of Feedback Loop Dependencies in Order of Improving RTL Digital Circuit Testability",
  booktitle="Proceedings of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems",
  year="2003",
  pages="303--304",
  publisher="Publishing House of Poznan University of Technology",
  address="Poznan",
  isbn="83-7143-557-6",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/7160/"
}
Nahoru