Detail publikace
Analysis and Comparison of Functional Verification and ATPG for Testing Design Reliability
ATPG, functional verification.
Složitost současných hardwarových systémů roste a je ťežké je zabezpečit proti poruchám a provést jejich verifikaci. Příčinou je, že verifikace a testování zaberají hodně času a s rastoucí složitostí obvodu roste i počet návrhových chyb a výrobních poruch. Navíc, když navrhujeme systém odolný proti poruchám, proces testování a verifikace se ještě více komplikuje. V tomto článku jsou představeny dva přístupy pro verifikaci spolehlivosti, především pro přípravu vstupních vektorů. První z nich je ATPG a druhým Generování testů pomocí omezujícich podmínek. V článku jsou vyhodnoceny jejich kvality i nedostatky a představeny nové techniky jak tyto dva přístupy zkombinovat pro dosáhnutí ještě lepších výsledků.
@inproceedings{BUT103467,
author="Marcela {Zachariášová} and Cristiana {Bolchini} and Zdeněk {Kotásek}",
title="Analysis and Comparison of Functional Verification and ATPG for Testing Design Reliability",
booktitle="IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems",
year="2013",
pages="275--278",
publisher="IEEE Computer Society",
address="Karlovy Vary",
isbn="978-1-4673-6133-0"
}