Detail publikace

Normalized Testability Measures Based on RTL Digital Circuit Graph Model Analysis

STRNADEL, J. Normalized Testability Measures Based on RTL Digital Circuit Graph Model Analysis. Proceedings of The fifth International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2002. Edition 55. Košice: The University of Technology Košice, 2002. p. 200-205. ISBN: 80-7099-879-2.
Název česky
Normalizované míry testovatelnosti založené na analýze grafového modelu RTL číslicového obvodu
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
Klíčová slova

Register transfer level, digital circuit graph model, testability analysis measures

Abstrakt

Článek prezentuje míry pro ohodnocení testovatelnosti založené na analýze grafového modelu RTL číslicového obvodu. V článku je představen grafový model RTL číslicového obvodu, vztahy pro ohodnocení testovatelnosti a dosažené experimentální výsledky.

Rok
2002
Strany
200–205
Sborník
Proceedings of The fifth International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2002
Řada
Edition 55
ISBN
80-7099-879-2
Vydavatel
The University of Technology Košice
Místo
Košice
BibTeX 
@inproceedings{BUT10247,
  author="Josef {Strnadel}",
  title="Normalized Testability Measures Based on RTL Digital Circuit Graph Model Analysis",
  booktitle="Proceedings of The fifth International Scientific Conference Electronic Computers and Informatics 2002",
  year="2002",
  series="Edition 55",
  pages="200--205",
  publisher="The University of Technology Košice",
  address="Košice",
  isbn="80-7099-879-2",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/6995/"
}
Soubory
Nahoru