Detail publikace
Testability Improvements Based on the Combination of Analytical and Evolutionary Approaches at RT Level
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
design for testability, scan technique, scan register, scan chain, state-space analysis, evolutionary approach, genetic algorithm
V článku je prezentován nový heuristický přístup k analýze testovatelnosti číslicových systémů reprezentovaných na RT úrovni popisu. Je ukázáno, že ohodnocení řiditelnosti/pozorovatelnosti reflektující strukturu číslicového systému je možno použít k nalezení přípustného kompromisu mezi testovatelností a návrhovými omezeními. Cílem metody je nalézt takovou modifikaci původní obvodové struktury, která se bude vyznačovat co nejlepší testovatelností dosažitelnou při daných návrhových omezeních. K prohlednávání prostoru řešení jsou využity evoluční techniky, zatímco pro ohodnocení testovatelnosti je využit algoritmus nad orientovaným grafem modelujícím vlastnosti obvodu.
@inproceedings{BUT10243,
author="Josef {Strnadel} and Zdeněk {Kotásek}",
title="Testability Improvements Based on the Combination of Analytical and Evolutionary Approaches at RT Level",
booktitle="Proceedings of Euromicro Symposium on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD'2002",
year="2002",
pages="166--173",
publisher="IEEE Computer Society Press",
address="Los Alamitos",
isbn="0-7695-1790-0",
url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/6980/"
}