Detail publikace

Testability Improvements Based on the Combination of Analytical and Evolutionary Approaches at RT Level

STRNADEL, J.; KOTÁSEK, Z. Testability Improvements Based on the Combination of Analytical and Evolutionary Approaches at RT Level. Proceedings of Euromicro Symposium on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD'2002. Los Alamitos: IEEE Computer Society Press, 2002. p. 166-173. ISBN: 0-7695-1790-0.
Název česky
Zlepšení testovatelnosti založené na kombinaci analytických a evolučních přístupů na RT úrovni popisu
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
anglicky
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY)
Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc.
Klíčová slova

design for testability, scan technique, scan register, scan chain, state-space analysis, evolutionary approach, genetic algorithm

Abstrakt

V článku je prezentován nový heuristický přístup k analýze testovatelnosti číslicových systémů reprezentovaných na RT úrovni popisu. Je ukázáno, že ohodnocení řiditelnosti/pozorovatelnosti reflektující strukturu číslicového systému je možno použít k nalezení přípustného kompromisu mezi testovatelností a návrhovými omezeními. Cílem metody je nalézt takovou modifikaci původní obvodové struktury, která se bude vyznačovat co nejlepší testovatelností dosažitelnou při daných návrhových omezeních. K prohlednávání prostoru řešení jsou využity evoluční techniky, zatímco pro ohodnocení testovatelnosti je využit algoritmus nad orientovaným grafem modelujícím vlastnosti obvodu.

Rok
2002
Strany
166–173
Sborník
Proceedings of Euromicro Symposium on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD'2002
ISBN
0-7695-1790-0
Vydavatel
IEEE Computer Society Press
Místo
Los Alamitos
BibTeX
@inproceedings{BUT10243,
  author="Josef {Strnadel} and Zdeněk {Kotásek}",
  title="Testability Improvements Based on the Combination of Analytical and Evolutionary Approaches at RT Level",
  booktitle="Proceedings of Euromicro Symposium on Digital System Design Architectures, Methods and Tools DSD'2002",
  year="2002",
  pages="166--173",
  publisher="IEEE Computer Society Press",
  address="Los Alamitos",
  isbn="0-7695-1790-0",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/6980/"
}
Nahoru