Detail publikace
Testability Enhancement of Multilevel Designs Guided by Testability Analysis Method
STRNADEL Josef. Testability Enhancement of Multilevel Designs Guided by Testability Analysis Method. In: Proceedings of Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2008, s. 367-372. ISBN 978-80-214-3717-3.
Název česky
Zlepšení testovatelnosti víceúrovňových návrhů řízené analýzou testovatelnosti
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
URL
Abstrakt
V příspěvku je prezentováno rozšíření dříve publikovaného modelu o prostředky víceúrovňového modelování a analýz. Je ilustrováno jak lze knihovny a obvodovou strukturu víceúrovňových návrhů popsat pomocí speciálního jazyka. Dále je nastíněno jak je možné navázat prezentovaný nástroj na vývojová prostředí používaná v praxi a jak lze využít výsledků analýzy testovatelnosti pro následné zlepšení testovatelnosti analyzovaných obvodů.
Rok
2008
Strany
367-372
Sborník
Proceedings of Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference
Konference
15th Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference, Brno, CZ
ISBN
978-80-214-3717-3
Vydavatel
Vysoké učení technické v Brně
Místo
Brno, CZ
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB8631, author = "Josef Strnadel", title = "Testability Enhancement of Multilevel Designs Guided by Testability Analysis Method", pages = "367--372", booktitle = "Proceedings of Electronic Devices and Systems IMAPS CS International Conference", year = 2008, location = "Brno, CZ", publisher = "Brno University of Technology", ISBN = "978-80-214-3717-3", language = "english", url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/8631" }