Detail publikace
Generating Synthetic Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties
PEČENKA Tomáš. Generating Synthetic Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties. In: Pre-Proc. 1st Doctoral Workshop on Mathematical and Engineering Methods in Computer Science. Brno, 2005, s. 200-209.
Název česky
Generování syntetických testovacích obvodů s předefinovanou testovatelností
Typ
článek ve sborníku konference
Jazyk
angličtina
Autoři
Pečenka Tomáš, Ing. (UPSY FIT VUT)
Klíčová slova
testovací obvod, evoluční návrh
Abstrakt
Příspěvek se zabývá využitím evolučních algoritmů pro automatický návrh testovacích obvodů.
Rok
2005
Strany
200-209
Sborník
Pre-Proc. 1st Doctoral Workshop on Mathematical and Engineering Methods in Computer Science
Konference
1st Doctoral Workshop on Mathematical and Engineering Methods in Computer Science -- MEMICS 2005, Znojmo, CZ
Místo
Brno, CZ
BibTeX
@INPROCEEDINGS{FITPUB7955, author = "Tom\'{a}\v{s} Pe\v{c}enka", title = "Generating Synthetic Benchmark Circuits with Predefined Testability Properties", pages = "200--209", booktitle = "Pre-Proc. 1st Doctoral Workshop on Mathematical and Engineering Methods in Computer Science", year = 2005, location = "Brno, CZ", language = "english", url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7955" }