Detail publikace
The Identification of Registers in RTL Structures
Mika Daniel, Ing. (UPSY FIT VUT)
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (UPSY FIT VUT)
Pokud je zvolen vhodný plánovací algoritmus a daný obvod splňuje jistá kritéria, je možné pro daný číslicový obvod vytvořit vysoce efektivní plán testu. Byl-li daný obvod modifikován pomocí technik návrhu pro snadnou testovatelnost, pak způsob aplikace těchto technik má podstatný vliv na parametry obvodu. Tedy je výhodné podrobněji se zabývat vlivem způsobu aplikace technik pro snadnou testovatelnost na výsledný plán testu. Tento článek se zabývá otázkou vlivu techniky výběru registrů do scan řetězů na plán testu. Ve článku je představen postup výběru registrů do scan řetězů takovým způsobem, aby výsledná množina scan registrů byla minimální a aby vybrané registry, tj. prostředky pro testování komponent obvodu, byly maximálně sdíleny obvodovými komponentami. Metoda je popsána pomocí prostředků matematického modelu, definice jsou ilustrovány na vhodných příkladech a experimentální výsledky jsou shrnuty spolu s výhledem další výzkumné činnosti v této oblasti.
@INPROCEEDINGS{FITPUB7618, author = "Zden\v{e}k Kot\'{a}sek and Daniel Mika and Josef Strnadel", title = "The Identification of Registers in RTL Structures", pages = "317--320", booktitle = "Preliminary Proceedings of 1st International Symposium on Leveraging Applications of Formal Methods ISOLA 2004", series = "Technical Report TR-2004-6", year = 2004, location = "Nicosia, CY", publisher = "Department of Computer Science of University of Cyprus", ISBN = "3-540-41613", language = "english", url = "https://www.fit.vut.cz/research/publication/7618" }