Publication Details

Analýza a zlepšení testovatelnosti číslicového obvodu na úrovni meziregistrových přenosů

STRNADEL, J. Analýza a zlepšení testovatelnosti číslicového obvodu na úrovni meziregistrových přenosů. Zborník príspevkov Česko-slovenského seminára pre študentov doktorandského štúdia Počítačové architektúry & Diagnostika (PAD). Bratislava: Slovenská akademie věd, 2004. s. 138-143. ISBN: 80-969202-0-0.
English title
Testability analysis and improvements of register-transfer level digital circuits
Type
conference paper
Language
Czech
Authors
Strnadel Josef, Ing., Ph.D. (DCSY)
Keywords

Diagnostics, register-transfer level, circuit data-path, formal model, mathematical model, transparency concept, hierarchical test, testability, testability analysis, graph algorithm, design for testability, testability improvements, benchmark circuit generation.

Abstract

The paper deals with main topics and problems that are related to testability analysis of digital circuits. The main goal of the paper is to present both motivation and research goals as they were set in author's PhD thesis. In PhD thesis, an efficient testability analysis method for register-transfer digital circuits is presented and it is demonstrated, how it can be used in selected areas related to design and diagnosis of digital circuits.

Published
2004
Pages
138–143
Proceedings
Zborník príspevkov Česko-slovenského seminára pre študentov doktorandského štúdia Počítačové architektúry & Diagnostika (PAD)
ISBN
80-969202-0-0
Publisher
Slovenská akademie věd
Place
Bratislava
BibTeX 
@inproceedings{BUT17358,
  author="Josef {Strnadel}",
  title="Analýza a zlepšení testovatelnosti číslicového obvodu na úrovni meziregistrových přenosů",
  booktitle="Zborník príspevkov Česko-slovenského seminára pre študentov doktorandského štúdia Počítačové architektúry & Diagnostika (PAD)",
  year="2004",
  pages="138--143",
  publisher="Slovenská akademie věd",
  address="Bratislava",
  isbn="80-969202-0-0",
  url="https://www.fit.vut.cz/research/publication/7564/"
}
Files
Back to top